為切實(shí)推進(jìn)黨史學(xué)習(xí)教育走深走實(shí)，廣電計(jì)量黨委創(chuàng)新活動(dòng)載體，豐富活動(dòng)形式，組織開展“四個(gè)一”工程活動(dòng)。“四個(gè)一”工程作為廣電計(jì)量今年重點(diǎn)打造的黨建品牌，是公司在知行合一、學(xué)以致用上下功夫，把黨史學(xué)習(xí)教育成果轉(zhuǎn)化為工作成效的具體舉措，屬于“學(xué)黨史辦實(shí)事”系列活動(dòng)之一。
廣電計(jì)量特策劃推出“四個(gè)一”工程系列專題報(bào)道，全面展示廣大黨員干部職工立足本職崗位，從一件件實(shí)事、新事做起，以計(jì)量檢測專業(yè)技術(shù)，傳遞質(zhì)量信任，讓人民生活更美好的成果事跡。
每月辦實(shí)事
TEM測試“首戰(zhàn)”告捷
助力國產(chǎn)芯片發(fā)展
踐行代表：上海子公司支部陳振
小到平時(shí)使用的智能手機(jī)，大到登月用的超級(jí)計(jì)算機(jī)，芯片可以說是無處不在。目前芯片的制造工藝越來越復(fù)雜，在進(jìn)行復(fù)雜工藝分析時(shí)，TEM（透射電鏡即透射電子顯微鏡）是必不可少的設(shè)備。除此之外，先進(jìn)刻蝕、鍍膜等半導(dǎo)體設(shè)備及工藝的研發(fā)，也需要用到TEM進(jìn)行輔助測試，所以，TEM在高端半導(dǎo)體分析測試領(lǐng)域，具有非常重要的地位。
在國家大力發(fā)展芯片產(chǎn)業(yè)的背景下，我國芯片企業(yè)快速發(fā)展，芯片制造、半導(dǎo)體設(shè)備及半導(dǎo)體工藝研發(fā)的熱度越來越高，TEM測試需求也越來越大。為積極響應(yīng)國家發(fā)展戰(zhàn)略，廣電計(jì)量上海子公司立足芯片產(chǎn)業(yè)發(fā)展需要，引進(jìn)高端技術(shù)人才，著力構(gòu)建TEM測試等高端芯片及半導(dǎo)體工藝分析測試能力。
TEM樣品拆卸
今年10月，上海失效分析實(shí)驗(yàn)室承接了第一個(gè)TEM測試項(xiàng)目，此測試項(xiàng)目的委托方為國內(nèi)知名的芯片封裝企業(yè)。為確保“首戰(zhàn)”取得勝利，實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體技術(shù)副經(jīng)理、共產(chǎn)黨員陳振牽頭主導(dǎo)，認(rèn)真研讀掌握設(shè)備相關(guān)操作標(biāo)準(zhǔn)，順利完成TEM設(shè)備的調(diào)試，為項(xiàng)目的成功開展奠定堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。
由于該TEM測試項(xiàng)目的材料組成復(fù)雜，且內(nèi)部結(jié)構(gòu)復(fù)雜，就連客戶對樣品的情況也不熟悉，測試需求不明確，需要在測試過程中逐步完善測試方案才能得到準(zhǔn)確的結(jié)果，對技術(shù)人員的測試經(jīng)驗(yàn)和理論基礎(chǔ)要求極高。
TEM樣品進(jìn)倉測試
面對挑戰(zhàn)，憑借近10年的半導(dǎo)體材料分析經(jīng)驗(yàn)，陳振在測試的過程中“吃透”技術(shù)難點(diǎn)和敏銳洞察客戶需求點(diǎn)，不斷與客戶溝通試驗(yàn)方案并提出建設(shè)性的意見，帶領(lǐng)團(tuán)隊(duì)成員劉強(qiáng)反復(fù)鉆研，成功解決客戶懸而未決的問題，最終成功交付。陳振表示：“我們的價(jià)值關(guān)鍵在于洞察客戶的需求，理解客戶的‘痛點(diǎn)’，利用我們的技術(shù)能力優(yōu)勢提供合適的試驗(yàn)方案，最終幫助客戶解決實(shí)際問題。”
項(xiàng)目完成后，有些試驗(yàn)數(shù)據(jù)超出客戶預(yù)料，為了進(jìn)一步驗(yàn)證突發(fā)情況，客戶委托實(shí)驗(yàn)室制定新的驗(yàn)證方案，并提交相關(guān)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。得知這一情況，身在徐州出差的陳振當(dāng)天晚上返回上海后立刻“扎進(jìn)”實(shí)驗(yàn)室投入工作，在當(dāng)天23:00出具了測試報(bào)告，有效保障了客戶項(xiàng)目進(jìn)度。
高分辨TEM能譜分析
談及開展此次項(xiàng)目的感受，陳振深有感觸地表示，共產(chǎn)黨員是先進(jìn)生產(chǎn)力的代表，在公司進(jìn)軍新領(lǐng)域、開展新項(xiàng)目時(shí)，黨員就應(yīng)該沖在一線，運(yùn)用專業(yè)知識(shí)解決好項(xiàng)目推進(jìn)過程中的重點(diǎn)、難點(diǎn)，創(chuàng)造先進(jìn)的試驗(yàn)方案和和工作方法，確保項(xiàng)目順利完工。“接下來，我們將持續(xù)提升團(tuán)隊(duì)的創(chuàng)新力和專業(yè)度，不斷完善公司在尖端半導(dǎo)體分析測試的技術(shù)布局，為國家在半導(dǎo)體及集成電路分析測試領(lǐng)域的發(fā)展貢獻(xiàn)更多技術(shù)力量。”